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当前位置：首页 / 福隆娱乐场真人游戏 / 其他专用仪器 / 真人娱乐游戏玩法介绍 / HAD-HT01激光测距仪
产品简介
激光测距仪 型号：HAD-HT01本安型红外线测距仪： 测量度 ±2mm 测量范围 0.05M --- 200M．测量范围为0.05至200m，度为±2mm．远距离测距100m无须使用反射板 ．屏幕照明灯显示、屏幕图形显示．前端测量或底测量选择、延迟测量．持续测量．防水、防尘有煤安认证有防认证
产品分类
相关文章
2024-06-112024-04-072025-01-162025-01-10| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,电子,交通,汽车,电气 |
本安型红外线测距仪 矿用激光测距仪 激光测距仪 型号：HAD-HT01
本安型红外线测距仪：
测量度 ±2mm
测量范围 0.05M --- 200M
．测量范围为0.05至200m，度为±2mm
．远距离测距100m无须使用反射板
．屏幕照明灯显示、屏幕图形显示
．前端测量或底测量选择、延迟测量
．持续测量
．防水、防尘
有煤安认证
2.无线高压电流互感器变比测试仪 型号:HAD-9500
产品特点
测量：高低压电流互感器一二次回路的电流、变比、比差、角差、相别、极性、漏电流在线测试监控；变压器两侧电流大小、变比在线测试监控；高空电流、漏电流测试；一二次回路核相、相序判断功能。
无线高压变比测试仪突破传统结构，专为测量高低压一二次回路的电流、变比、漏电流而精心设计制造的，采用新CT技术及掩膜数字集成技术，由专用高压检测仪、低压电流钳、主机、高压绝缘杆、监控软件等组成，其无线传送测试数据能穿透多层楼房障碍，直线传输距离达300米。若不使用绝缘杆，还可以当作高精度低压钳形电流表、漏电流表使用，能准确测出0.01mA～1000A的电流或漏电流。
3.活性炭粒度真人娱乐游戏玩法介绍 /活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪 型号:HAD-LD3
主要部件及主要参数:
测颗粒粒度真人娱乐游戏玩法介绍 的主要部件及参数
l 转速：150±2r/min
转轴偏心距：20 ±1mm
2.定时器
3.电压：220V 功率：0.5KW
4.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.
5.多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，最大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）
电 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
以上参数资料与图片相对应
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